詳細(xì)摘要: 非接觸式硅片厚度測量儀SIT-200由精確可調(diào)激光光源,聚焦傳感器,光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上,由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案,經(jīng)過聚焦...
產(chǎn)品型號:SIT-200所在地:上海更新時間:2022-11-04 在線留言
上海屹持光電技術(shù)有限公司
詳細(xì)摘要: 非接觸式硅片厚度測量儀SIT-200由精確可調(diào)激光光源,聚焦傳感器,光學(xué)接收器組成。波長掃描光聚焦照射到目標(biāo)上,由目標(biāo)表面和背面反射光干涉形成干涉圖案,經(jīng)過聚焦...
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